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公开(公告)号:CN112198469A
公开(公告)日:2021-01-08
申请号:CN202010962953.1
申请日:2020-09-14
Applicant: 东南大学
Abstract: 本发明涉及提供了一种霍尔效应自动测量系统及其测量方法,测量装置包括样品台、真空装置、温控装置、磁场发生装置、精密恒流源、数字源表,设有可安放样品台的真空装置,由温控装置控制样品台温度,并置于磁场发生装置中;样品台设有四个电极探针,通过导线穿过真空装置上的电极引出孔连接到精密恒流源与数字源表,构成测量电路,其中数字源表包括开关模块。测量时,数字源表切换开关模块状态,精密恒流源向样品施加电流,数字源表读取样品输出的电压信号。本发明以LabVIEW为软件平台,实现对多个仪器的自动控制、数据自动记录和分析,在安装完样品后,可实现80K到325K的温度范围内自动测量并计算得到样品的电阻率、霍尔迁移率等重要参数。
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公开(公告)号:CN112198469B
公开(公告)日:2023-11-07
申请号:CN202010962953.1
申请日:2020-09-14
Applicant: 东南大学
Abstract: 本发明涉及提供了一种霍尔效应自动测量系统及其测量方法,测量装置包括样品台、真空装置、温控装置、磁场发生装置、精密恒流源、数字源表,设有可安放样品台的真空装置,由温控装置控制样品台温度,并置于磁场发生装置中;样品台设有四个电极探针,通过导线穿过真空装置上的电极引出孔连接到精密恒流源与数字源表,构成测量电路,其中数字源表包括开关模块。测量时,数字源表切换开关模块状态,精密恒流源向样品施加电流,数字源表读取样品输出的电压信号。本发明以LabVIEW为软件平台,实现对多个仪器的自动控制、数据自动记录和分析,在安装完样品后,可实现80K到325K的温度范围内自动测量并计算得到样品的电阻率、霍尔迁移率等重要参数。
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