一种可原位表面辐射测量装置
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116297340A

    公开(公告)日:2023-06-23

    申请号:CN202310322564.6

    申请日:2023-03-30

    Abstract: 本发明涉及光辐射测量的技术领域,且公开了一种可原位表面辐射测量装置,包括支撑底板,支撑底板的顶部固定连接有环形导轨,支撑底板的中心位置开设有圆形通孔,支撑底板的顶部还固定连接有光源弧形轨道,光源组件可沿光源弧形轨道移动,扇形溜板组件可沿环形导轨移动,探测器弧形轨道的外壁安装有可活动的测量组件,测量组件可沿探测器轨道移动。本发明采用双轨道结构,通过设置环形导轨、光源弧形轨道、探测器弧形轨道、扇形溜板组件光源组件以及测量组件能够实现原位测量,可进行半球空间内光反射特性的测量,无需对待测材料进行切片处理,支撑底板采用中空结构便于对待测材料表面进行辐射测量,有利于提高测量准确性以及测量效率。

    一种可原位测量BRDF/BTDF的装置
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118392827A

    公开(公告)日:2024-07-26

    申请号:CN202410482120.3

    申请日:2024-04-22

    Abstract: 本发明涉及光辐射测量的技术领域,且公开了一种可原位测量BRDF/BTDF的装置,包括环形底座,环形底座的对称轴线位置安装有光源弧形轨道,光源弧形轨道上安装有可活动的光源组件,光源组件可沿光源弧形轨道移动,且光源方向指向环形底座的底面圆心,环形底座与光源组件运动路线相交的位置安装有光源角度调整装置,环形底座上安装有探测器机械臂,光源角度调整装置调整光源组件在光源弧形轨道上的位置,探测器机械臂的末端能在以环形底座底面圆心为球心的一定大小虚拟球面上活动,即保证探测方向指向环形底座的底面圆心,环形底座上部可安装辅助测量支架,环形底座上部可安装样品支架。本发明在一定情况下无需对待测材料进行切片处理,提高了测量效率,且将BRDF和BTDF的测量装置统合,扩展了装置的应用范围,整体设备采用模块化的设计,方便拆装。

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