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公开(公告)号：CN105137390B
公开(公告)日：2017-11-14
申请号：CN201510582166.3
申请日：2015-09-14
Applicant: 上海工程技术大学
Abstract: 本发明涉及一种基于可调发射功率AP的室内定位方法，包括以下步骤：1)在待定位的室内区域内布置至少三个具有至少两个发射功率档位的AP；2)对待定位的室内区域进行单元网格划分并构建坐标系，在各个单元网格区域设置信号参考点，构建位置指纹数据库并将参考点坐标存入位置指纹数据库中；3)离线训练：通过移动终端获取每个信号参考点的信号特征参数并存入指纹数据库中；4)在线定位：获取室内区域内待测终端所有AP在多个档位下的信号强度和方差，并在PC中与位置指纹数据库里各信号参考点的信号特征参数通过定位算法进行匹配得出待定位点的位置坐标。与现有技术相比，本发明具有定位精度高等优点。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105069284A
公开(公告)日：2015-11-18
申请号：CN201510433829.5
申请日：2015-07-22
Applicant: 上海工程技术大学
IPC: G06F19/00
Abstract: 本发明涉及一种基于内点罚函数算法的多光谱温度获取方法，该方法包括以下步骤：1)根据多波长温度计检测的亮度温度，建立基于内点罚函数算法的目标函数；2)建立基于内点罚函数算法的约束条件；3)通过目标函数和约束条件建立基于内点罚函数算法的多光谱温度模型，并采用内点罚函数算法求解，获取待测量物体的真温。与现有技术相比，本发明具有精度高、适用范围广、抗噪性好等优点。
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公开(公告)号：CN105043555B
公开(公告)日：2017-12-12
申请号：CN201510598210.X
申请日：2015-09-18
Applicant: 上海工程技术大学
IPC: G01J5/00
Abstract: 本发明提供了一种计算光谱发射率和真实温度的方法，采用多光谱测温仪对待测发光体的光谱发射率和真实温度进行测量，包括步骤：(1)采用分光器将待测发光体发出的光分成具有不同波长的多路光；(2)让多光谱测温仪的多个通道分别接收相应的一路光，从而得到每路光的亮度温度；(3)基于预定规则得到每个通道测得的亮度温度与真实温度的温度关系式，即这里，Ti为第i个通道的亮度温度，T为真实温度，λi为第i个通道接收的分光束的波长，C2为第二辐射常数，ε(λi，T)为第i个通道的光谱发射率；(4)基于温度关系式以及预定转换规则，得到迭代截止条件，即、 min f ( ϵ λ i ) = Σ i = 1 n [ T i - E ( T i ) ] 2 , 这里， E ( T i ) = 1 n Σ i = 1 n T i ; (5)基于梯度投影法和光谱发射率的值介于0和1之间，计算出光谱发射率和真实温度。
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公开(公告)号：CN105137390A
公开(公告)日：2015-12-09
申请号：CN201510582166.3
申请日：2015-09-14
Applicant: 上海工程技术大学
CPC classification number: G01S5/0252 , H04W4/023
Abstract: 本发明涉及一种基于可调发射功率AP的室内定位方法，包括以下步骤：1)在待定位的室内区域内布置至少三个具有至少两个发射功率档位的AP；2)对待定位的室内区域进行单元网格划分并构建坐标系，在各个单元网格区域设置信号参考点，构建位置指纹数据库并将参考点坐标存入位置指纹数据库中；3)离线训练：通过移动终端获取每个信号参考点的信号特征参数并存入指纹数据库中；4)在线定位：获取室内区域内待测终端所有AP在多个档位下的信号强度和方差，并在PC中与位置指纹数据库里各信号参考点的信号特征参数通过定位算法进行匹配得出待定位点的位置坐标。与现有技术相比，本发明具有定位精度高等优点。
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公开(公告)号：CN105069284B
公开(公告)日：2017-11-14
申请号：CN201510433829.5
申请日：2015-07-22
Applicant: 上海工程技术大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明涉及一种基于内点罚函数算法的多光谱温度获取方法，该方法包括以下步骤：1)根据多波长温度计检测的亮度温度，建立基于内点罚函数算法的目标函数；2)建立基于内点罚函数算法的约束条件；3)通过目标函数和约束条件建立基于内点罚函数算法的多光谱温度模型，并采用内点罚函数算法求解，获取待测量物体的真温。与现有技术相比，本发明具有精度高、适用范围广、抗噪性好等优点。
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公开(公告)号：CN105043555A
公开(公告)日：2015-11-11
申请号：CN201510598210.X
申请日：2015-09-18
Applicant: 上海工程技术大学
IPC: G01J5/00
Abstract: 本发明提供了一种计算光谱发射率和真实温度的方法，采用多光谱测温仪对待测发光体的光谱发射率和真实温度进行测量，包括步骤：(1)采用分光器将待测发光体发出的光分成具有不同波长的多路光；(2)让多光谱测温仪的多个通道分别接收相应的一路光，从而得到每路光的亮度温度；(3)基于预定规则得到每个通道测得的亮度温度与真实温度的温度关系式，即这里，Ti为第i个通道的亮度温度，T为真实温度，λi为第i个通道接收的分光束的波长，C2为第二辐射常数，ε(λi，T)为第i个通道的光谱发射率；(4)基于温度关系式以及预定转换规则，得到迭代截止条件，即、这里，(5)基于梯度投影法和光谱发射率的值介于0和1之间，计算出光谱发射率和真实温度。
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