公开(公告)号：CN105280510B

公开(公告)日：2019-05-28

申请号：CN201510133011.1

申请日：2015-03-25

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 池元秀 ,  权五锡 ,  朴大绪 ,  K·李

IPC: H01L21/66

CPC classification number: G01M11/0278 ,  G01J1/42 ,  G01J2001/4252 ,  G01M11/0257

Abstract: 一种用于检查光源模块的缺陷的方法和制造光源模块的方法，所述用于检查光源模块的缺陷的方法包括制备其上安装有发光器件和覆盖发光器件的透镜的板。将电流施加至发光器件以接通发光器件。在发光器件接通的情况下对透镜成像。基于获得的图像计算表示发光分布相对于透镜的中心的对称性的中心对称性，并且将计算的中心对称性与参考值进行比较以确定是否发生了不对称的发光分布。还提供了用于检查光源模块的各种其它方法和设备。

公开(公告)号：CN105280510A

公开(公告)日：2016-01-27

申请号：CN201510133011.1

申请日：2015-03-25

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 池元秀 ,  权五锡 ,  朴大绪 ,  K·李

IPC: H01L21/66

CPC classification number: G01M11/0278 ,  G01J1/42 ,  G01J2001/4252 ,  G01M11/0257

Abstract: 一种用于检查光源模块的缺陷的方法和制造光源模块的方法，所述用于检查光源模块的缺陷的方法包括制备其上安装有发光器件和覆盖发光器件的透镜的板。将电流施加至发光器件以接通发光器件。在发光器件接通的情况下对透镜成像。基于获得的图像计算表示发光分布相对于透镜的中心的对称性的中心对称性，并且将计算的中心对称性与参考值进行比较以确定是否发生了不对称的发光分布。还提供了用于检查光源模块的各种其它方法和设备。