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公开(公告)号：CN1260556C
公开(公告)日：2006-06-21
申请号：CN200310101375.9
申请日：2003-10-16
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G01L5/0047
Abstract: 一种光纤剩余应力的测量系统，所述系统包括：光源，用于产生测量剩余应力的光；透镜单元，用于将所产生的光转换成平面波；偏振计，用于将所转换的光变换成输入的偏振光，入射在光纤上；旋转测量部分，用以旋转所述光纤，以便能使偏振光沿各种方向穿过所述光纤；以及探测器，用于从透过的光的相移检测剩余应力。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1497249A
公开(公告)日：2004-05-19
申请号：CN200310101375.9
申请日：2003-10-16
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G01L5/0047
Abstract: 一种光纤剩余应力的测量系统，所述系统包括：光源，用于产生测量剩余应力的光；透镜单元，用于将所产生的光转换成平面波；偏振计，用于将所转换的光变换成输入的偏振光，入射在光纤上；旋转测量部分，用以旋转所述光纤，以便能使偏振光沿各种方向穿过所述光纤；以及探测器，用于从透过的光的相移检测剩余应力。
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公开(公告)号：CN1517688A
公开(公告)日：2004-08-04
申请号：CN200410002405.5
申请日：2004-01-19
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G01M11/088 , G01L5/0047
Abstract: 本申请公开了一种测量光纤中残余应力的装置。该装置包括：光源，发射用于测量光纤中残余应力的光束；偏振器，对光束进行偏振，并将偏振光束会聚到光纤；以及载玻片，设置用于支撑要对其残余应力进行测量的光纤。所述装置也包括：分析器，设置在与载玻片相对的位置上，用于覆盖和支撑光纤，并用于有选择地通过从光纤入射的光束的预定偏振分量；以及检测单元，用于对从分析器传过来的光束进行可视化。
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公开(公告)号：CN1256187A
公开(公告)日：2000-06-14
申请号：CN99126637.4
申请日：1999-11-05
Applicant: 三星电子株式会社
Inventor： 金现哲
CPC classification number: G05B19/404 , B23Q3/186 , B23Q17/20 , B23Q17/2291 , B23Q17/24 , B24B5/04 , B24B41/067 , B24B49/12 , B24B51/00 , G02B6/3833 , G05B2219/37339 , G05B2219/49177
Abstract: 一种同心机加工装置和方法,用于对具有一定内径和外径的圆筒形物体的外圆周表面相对于内径的中心进行机加工,使得外径和内径的中心重合。圆筒形物体固定在固定装置上。旋转装置根据旋转控制信号旋转该固定装置和圆筒形物体。摄影装置对圆筒形物体的横断面进行摄影。控制装置根据摄影横断面的信息计算偏心度,产生旋转控制信号使之按照预定角度旋转旋转装置,并产生与偏心度相对应的机加工控制信号。调节装置根据从传输装置接收的机加工信号调节圆筒形物体的位置,使其内径中心和旋转装置的旋转中心重合。
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公开(公告)号：CN1492252A
公开(公告)日：2004-04-28
申请号：CN03158117.X
申请日：2003-09-11
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G02B6/30 , G02B6/3803 , G02B6/4226
Abstract: 本发明涉及一种用来使平面光波导元件与光纤块对准的对准装置，其中完成的对准的精度比传统方法的高并且花费少。该对准装置包括：下板；滑台，该滑台安装在所述下板上，并且可以在所述下板上水平移动；安装至所述滑台的上板；以及夹具，该夹具设置在所述上板上且固定至旋转装置，该夹具能围绕所述上板旋转，用来保持所述光纤块。
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