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公开(公告)号：CN109670346A
公开(公告)日：2019-04-23
申请号：CN201811184280.0
申请日：2018-10-11
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G06F21/73
Abstract: 本申请提供了一种半导体装置、半导体装置的安全密钥登记方法、以及一种电子系统。该半导体装置包括：物理防克隆功能单元阵列，其包括输出第一位的物理防克隆功能单元；非易失性存储器，其存储标志位、第一屏蔽位和第二屏蔽位，标志位指示第一位是否有效，通过根据第二位的奇偶性屏蔽第二位而产生第一屏蔽位，通过屏蔽第二位的辅助位而产生第二屏蔽位，第二位是第一位中的有效位；提取单元，其使用标志位来从第一位提取第二位；解屏蔽单元，其在接收到第二位时使用第一屏蔽位来解屏蔽第二位，从而提供第三位；位解码单元，其在接收到第三位时将第三位压缩为第四位；以及，块解码单元，其通过解码第四位和第二屏蔽位而产生安全密钥。
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公开(公告)号：CN113158200A
公开(公告)日：2021-07-23
申请号：CN202110034190.9
申请日：2021-01-12
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 本公开涉及使用挑战‑响应协议执行认证的集成电路和使用其的方法。所述集成电路包括内部挑战生成器、物理不可克隆功能(PUF)块和响应生成器。内部挑战生成器被配置为接收挑战，生成与挑战对应的多个内部挑战，并且使用筛选信息生成所述多个内部挑战之中的至少一个有效内部挑战。物理不可克隆功能(PUF)块被配置为生成分别根据所述多个有效内部挑战而改变的多个有效内部响应。响应生成器被配置为输出使用所述多个有效内部响应生成的响应。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108089840B
公开(公告)日：2022-03-08
申请号：CN201710055989.X
申请日：2017-01-25
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G06F7/58
Abstract: 本发明提供了一种用于随机数产生器的随机性测试设备及方法。一种用于测试随机数产生器的设备包括相关性测试电路和随机性确定电路。相关性测试电路提取由随机数产生器产生的比特流中的均包括彼此隔开第一距离的两个比特的第一多个比特对，获得所述第一多个比特对的各自两个比特之间的差的第一总和，并获得第二多个比特对的各自两个比特之间的差的第二总和，所述第二多个比特对的每个比特对包括彼此隔开与第一距离不同的第二距离的两个比特。随机性确定电路基于第一总和和第二总和来确定比特流的随机性。
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公开(公告)号：CN109670346B
公开(公告)日：2023-06-16
申请号：CN201811184280.0
申请日：2018-10-11
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G06F21/73
Abstract: 本申请提供了一种半导体装置、半导体装置的安全密钥登记方法、以及一种电子系统。该半导体装置包括：物理防克隆功能单元阵列，其包括输出第一位的物理防克隆功能单元；非易失性存储器，其存储标志位、第一屏蔽位和第二屏蔽位，标志位指示第一位是否有效，通过根据第二位的奇偶性屏蔽第二位而产生第一屏蔽位，通过屏蔽第二位的辅助位而产生第二屏蔽位，第二位是第一位中的有效位；提取单元，其使用标志位来从第一位提取第二位；解屏蔽单元，其在接收到第二位时使用第一屏蔽位来解屏蔽第二位，从而提供第三位；位解码单元，其在接收到第三位时将第三位压缩为第四位；以及，块解码单元，其通过解码第四位和第二屏蔽位而产生安全密钥。
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公开(公告)号：CN113204768A
公开(公告)日：2021-08-03
申请号：CN202110073538.5
申请日：2021-01-20
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 提供了一种安全设备及其操作方法，该安全设备及其操作方法基于物理不可克隆函数(PUF)生成用于掩蔽密钥的掩蔽数据。该安全设备包括：PUF电路，其包括输出随机密钥数据和掩蔽数据的多个PUF单元；密钥生成器，被配置为通过对随机密钥数据执行的后处理来生成密钥；以及掩蔽模块，被配置为通过使用掩蔽数据来掩蔽和存储密钥，其中，随机密钥数据和掩蔽数据是由不同的PUF单元生成的。
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公开(公告)号：CN113259114A
公开(公告)日：2021-08-13
申请号：CN202110189979.1
申请日：2021-02-18
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 一种安全装置基于物理不可克隆函数(PUF)生成密钥。安全装置包括物理不可克隆函数(PUF)块、完整性检测器和后处理器。PUF块输出多个第一随机信号和多个对应的第一取反后的随机信号，多个对应的第一取反后的随机信号中的每一个具有与多个第一随机信号中的每一个的逻辑电平相反的逻辑电平。完整性检测器通过使用多个第一随机信号和多个对应的第一取反后的随机信号来确定多个第一随机信号的数据完整性。后处理器生成包括满足数据完整性的有效性信号的第一行密钥。
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公开(公告)号：CN108089840A
公开(公告)日：2018-05-29
申请号：CN201710055989.X
申请日：2017-01-25
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G06F7/58
Abstract: 本发明提供了一种用于随机数产生器的随机性测试设备及方法。一种用于测试随机数产生器的设备包括相关性测试电路和随机性确定电路。相关性测试电路提取由随机数产生器产生的比特流中的均包括彼此隔开第一距离的两个比特的第一多个比特对，获得所述第一多个比特对的各自两个比特之间的差的第一总和，并获得第二多个比特对的各自两个比特之间的差的第二总和，所述第二多个比特对的每个比特对包括彼此隔开与第一距离不同的第二距离的两个比特。随机性确定电路基于第一总和和第二总和来确定比特流的随机性。
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