公开(公告)号：CN107155347B

公开(公告)日：2020-05-26

申请号：CN201580066336.0

申请日：2015-07-10

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 赵仪悬 ,  姜智允 ,  金智苑 ,  朴姓河 ,  李凡石

IPC: G01N21/01 ,  G01N21/77 ,  G01N33/53 ,  C09D11/037

Abstract: 本文中公开能够光学分析少量的样品的用于光学分析的结构体和用于制造其的墨组合物。用于光学分析的结构体包括载体和结合到载体并且配置成在载体的一个表面上形成腔室的墨结构体。墨结构体包括配置成形成墨结构体的主体的第一墨结构部件和在第一墨的侧表面的下部部分处形成的第二墨结构部件，使得第一墨结构部件和第二墨结构部件相对于腔室的中央的方向具有不同的斜度。

公开(公告)号：CN107155347A

公开(公告)日：2017-09-12

申请号：CN201580066336.0

申请日：2015-07-10

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 赵仪悬 ,  姜智允 ,  金智苑 ,  朴姓河 ,  李凡石

IPC: G01N21/01 ,  G01N21/77 ,  G01N33/53 ,  C09D11/00

Abstract: 本文中公开能够光学分析少量的样品的用于光学分析的结构体和用于制造其的墨组合物。用于光学分析的结构体包括载体和结合到载体并且配置成在载体的一个表面上形成腔室的墨结构体。墨结构体包括配置成形成墨结构体的主体的第一墨结构部件和在第一墨的侧表面的下部部分处形成的第二墨结构部件，使得第一墨结构部件和第二墨结构部件相对于腔室的中央的方向具有不同的斜度。

公开(公告)号：CN106662523A

公开(公告)日：2017-05-10

申请号：CN201580043348.1

申请日：2015-08-11

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 朴相范 ,  金贵炫 ,  朴珠熙 ,  朴姓河 ,  李凡石 ,  宋炅美 ,  赵仪悬 ,  金贺娜

IPC: G01N21/01 ,  G01N21/31

CPC classification number: G01N21/31 ,  B01L3/5023 ,  B01L3/502715 ,  B01L3/50273 ,  B01L2200/025 ,  B01L2200/04 ,  B01L2200/148 ,  B01L2200/16 ,  B01L2300/024 ,  B01L2300/0806 ,  B01L2300/0864 ,  B01L2300/0887 ,  B01L2300/161 ,  B01L2400/0409 ,  G01N21/05 ,  G01N21/274 ,  G01N21/314 ,  G01N33/492 ,  G01N2021/3129 ,  G01N2333/9108 ,  G01N21/01 ,  G01N21/3103

Abstract: 样品测试方法、微流体装置和测试装置在不添加用于检测干扰物质的单独的试剂的情况下使用光学测量有效且准确地补偿样品中存在的干扰物质的干扰。所述样品测试方法包括：测量样品中存在的靶物质的光学特征值；测量样品中存在的干扰物质的光学特征值；和基于干扰物质的光学特征值确定干扰物质对其的干扰被补偿的靶物质的浓度。