公开(公告)号：CN108694273B

公开(公告)日：2023-08-08

申请号：CN201810325304.3

申请日：2018-04-12

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 许诺 ,  王敬 ,  崔祐晟 ,  江正平

IPC: G06F30/398

Abstract: 一种用于评估稀有失效事件的电路良率分析方法及其系统，其可提高重要性采样蒙特卡罗(ISMC)模拟效率及准确性。所述方法包括：执行初始采样，以检测在多维度参数空间中分别位于一个或多个失效区处的失效样本；产生失效样本沿每一维度在离散值处的分布；识别所述失效样本；执行变换以将所述失效样本投影到变换空间中的所有维度中；以及针对所述参数空间中的每一维度来分类失效区的类型。

公开(公告)号：CN109753677A

公开(公告)日：2019-05-14

申请号：CN201811321312.7

申请日：2018-11-07

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 许诺 ,  王敬 ,  奇维义 ,  江正平 ,  崔祐晟

IPC: G06F17/50

Abstract: 根据本发明的一个实施例，一种被配置成对包括多个晶体管的电路的劣化输出进行仿真的电路仿真器包括：行为递归神经网络，被配置成接收输入波形并计算电路输出波形；特征引擎，被配置成根据老化时间对一个或多个劣化电路元件进行建模，接收所述电路输出波形并输出多个劣化特征；以及物理递归神经网络，被配置成从所述特征引擎接收多个所述劣化特征并对所述电路的所述劣化输出进行仿真。也提供对劣化电路的输出进行仿真的方法和系统。

公开(公告)号：CN108694273A

公开(公告)日：2018-10-23

申请号：CN201810325304.3

申请日：2018-04-12

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 许诺 ,  王敬 ,  崔祐晟 ,  江正平

IPC: G06F17/50

Abstract: 一种用于评估稀有失效事件的电路良率分析方法及其系统，其可提高重要性采样蒙特卡罗(ISMC)模拟效率及准确性。所述方法包括：执行初始采样，以检测在多维度参数空间中分别位于一个或多个失效区处的失效样本；产生失效样本沿每一维度在离散值处的分布；识别所述失效样本；执行变换以将所述失效样本投影到变换空间中的所有维度中；以及针对所述参数空间中的每一维度来分类失效区的类型。