半导体装置
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111063734A

    公开(公告)日:2020-04-24

    申请号:CN201910432864.3

    申请日:2019-05-23

    Abstract: 提供了一种半导体装置。该半导体装置包括:基底,包括第一区域和第二区域;埋入栅极结构,位于基底的第一区域中的第一凹部上;以及凹入栅极结构,位于基底的第二区域中的第二凹部上,其中,埋入栅极结构埋在基底中,凹入栅极结构的上部不埋在基底中,埋入栅极结构中的第一功函数调节层可以包括与凹入栅极结构的第二功函数调节层中包括的材料相同的材料。

    半导体装置
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN111063734B

    公开(公告)日:2024-08-06

    申请号:CN201910432864.3

    申请日:2019-05-23

    Abstract: 提供了一种半导体装置。该半导体装置包括:基底,包括第一区域和第二区域;埋入栅极结构,位于基底的第一区域中的第一凹部上;以及凹入栅极结构,位于基底的第二区域中的第二凹部上,其中,埋入栅极结构埋在基底中,凹入栅极结构的上部不埋在基底中,埋入栅极结构中的第一功函数调节层可以包括与凹入栅极结构的第二功函数调节层中包括的材料相同的材料。

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