公开(公告)号：CN113158200A

公开(公告)日：2021-07-23

申请号：CN202110034190.9

申请日：2021-01-12

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 金容秀 ,  李柱渊 ,  卢美贞 ,  李容基 ,  崔允赫

IPC: G06F21/60 ,  G06F21/64

Abstract: 本公开涉及使用挑战‑响应协议执行认证的集成电路和使用其的方法。所述集成电路包括内部挑战生成器、物理不可克隆功能(PUF)块和响应生成器。内部挑战生成器被配置为接收挑战，生成与挑战对应的多个内部挑战，并且使用筛选信息生成所述多个内部挑战之中的至少一个有效内部挑战。物理不可克隆功能(PUF)块被配置为生成分别根据所述多个有效内部挑战而改变的多个有效内部响应。响应生成器被配置为输出使用所述多个有效内部响应生成的响应。

公开(公告)号：CN113111394A

公开(公告)日：2021-07-13

申请号：CN202010964948.4

申请日：2020-09-15

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 博赫丹·卡尔平斯基 ,  卢美贞 ,  朴志殷 ,  李容基 ,  李柱渊

IPC: G06F21/76 ,  H04L9/08

Abstract: 公开了用于检测对集成电路的侵入性攻击的设备和方法。所述设备包括集成电路和设置在集成电路上的多条导线。集成电路包括：(i)信号生成电路，被配置为基于随机数或伪随机数生成随机信号和选择信号，(ii)发送电路，被配置为基于选择信号从所述多条导线之中选择至少一条导线，并且通过所述至少一条导线输出随机信号，以及(iii)接收电路，被配置为基于通过所述至少一条导线接收的信号来检测对集成电路的侵入性攻击。