半导体器件及其制造方法

    公开(公告)号:CN110828370B

    公开(公告)日:2024-06-18

    申请号:CN201910378795.2

    申请日:2019-05-08

    Abstract: 提供了一种半导体器件,其包括:下布线;层间绝缘膜,位于下布线上方并包括具有第一密度的第一部分和位于第一部分上的第二部分,第一部分和第二部分具有相同的材料,第二部分具有小于第一密度的第二密度;上布线,位于层间绝缘膜的第二部分中;以及通路,至少部分地位于层间绝缘膜的第一部分中,通路连接上布线和下布线。

    半导体器件及其制造方法

    公开(公告)号:CN110828370A

    公开(公告)日:2020-02-21

    申请号:CN201910378795.2

    申请日:2019-05-08

    Abstract: 提供了一种半导体器件,其包括:下布线;层间绝缘膜,位于下布线上方并包括具有第一密度的第一部分和位于第一部分上的第二部分,第一部分和第二部分具有相同的材料,第二部分具有小于第一密度的第二密度;上布线,位于层间绝缘膜的第二部分中;以及通路,至少部分地位于层间绝缘膜的第一部分中,通路连接上布线和下布线。

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