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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN100573236C
公开(公告)日：2009-12-23
申请号：CN200610067396.7
申请日：2006-03-20
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G06T7/0004 , G01N21/8806 , G01N21/956 , G01N2021/9513
Abstract: 目测装置包括多个用于拍照显示面板的相机和用于对拍照的图像进行处理的处理器。具体地说，该目测装置包括：具有上面安装了显示面板的面板安装单元的工作台；垂直于面板安装单元设置并具有以矩阵形式安排的多个相机的相机模块；和用于对由相机拍照的显示面板的图像进行处理的处理器。所述多个相机以具有相机之间可变距离的矩阵形式排列。由于该目测装置包括以矩阵形式排列的多个相机，所以能够有效地用于检测各种缺陷。
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公开(公告)号：CN100492104C
公开(公告)日：2009-05-27
申请号：CN200510098768.8
申请日：2005-09-07
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G02F1/13
CPC classification number: G02F1/1362 , G02F2001/136254 , G09G3/006 , G09G3/3648 , G09G2300/0426
Abstract: 一种包括提高像素测试特性的测试线的显示基片及其制造方法，其中，显示基片包括基片、信号线、测试线，基片又包括布置像素的像素区域、置于围绕像素区域周边的缓冲器区域、及形成于缓冲器周围的磨光区域。信号线从磨光区域经过缓冲器区域向像素提供驱动信号。测试线与信号线晶格状交叉并分别置于磨光区域及缓冲器区域，各测试线与由测试线个数除信号线个数所得个数的信号线连接。从而，能够较精密地测试显示图像的像素特性。
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公开(公告)号：CN101071157A
公开(公告)日：2007-11-14
申请号：CN200710007733.8
申请日：2007-01-29
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G01R31/28
Abstract: 提供了显示器基板的检查方法和显示器基板的检查设备。所述显示器基板包括多条测试线、多个电连接到每条所述测试线的信号施加焊盘和多条电连接到所述信号施加焊盘的信号线。在所述方法中，向所述测试线施加多个第一测试信号，以检查是否产生了第一信号缺陷。在产生第一信号缺陷时，使所述信号施加焊盘相互电短接。向所述测试线施加多个第二测试信号，以检查是否产生了第二信号缺陷。因此，可以提高显示器基板的检查可靠性。
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公开(公告)号：CN1837900A
公开(公告)日：2006-09-27
申请号：CN200610067396.7
申请日：2006-03-20
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G06T7/0004 , G01N21/8806 , G01N21/956 , G01N2021/9513
Abstract: 目测装置包括多个用于拍照显示面板的相机和用于对拍照的图像进行处理的处理器。具体地说，该目测装置包括：具有上面安装了显示面板的面板安装单元的工作台；垂直于面板安装单元设置并具有以矩阵形式安排的多个相机的相机模块；和用于对由相机拍照的显示面板的图像进行处理的处理器。所述多个相机以具有相机之间可变距离的矩阵形式排列。由于该目测装置包括以矩阵形式排列的多个相机，所以能够有效地用于检测各种缺陷。
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公开(公告)号：CN1746729A
公开(公告)日：2006-03-15
申请号：CN200510098768.8
申请日：2005-09-07
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G02F1/13
CPC classification number: G02F1/1362 , G02F2001/136254 , G09G3/006 , G09G3/3648 , G09G2300/0426
Abstract: 一种包括提高像素测试特性的测试线的显示基片及其制造方法，其中，显示基片包括基片、信号线、测试线，基片又包括布置像素的像素区域、置于围绕像素区域周边的缓冲器区域、及形成于缓冲器周围的磨光区域。信号线从磨光区域经过缓冲器区域向像素提供驱动信号。测试线与信号线晶格状交叉并分别置于磨光区域及缓冲器区域，各测试线与由测试线个数除信号线个数所得个数的信号线连接。从而，能够较精密地测试显示图像的像素特性。
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