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公开(公告)号：CN109670346A
公开(公告)日：2019-04-23
申请号：CN201811184280.0
申请日：2018-10-11
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G06F21/73
Abstract: 本申请提供了一种半导体装置、半导体装置的安全密钥登记方法、以及一种电子系统。该半导体装置包括：物理防克隆功能单元阵列，其包括输出第一位的物理防克隆功能单元；非易失性存储器，其存储标志位、第一屏蔽位和第二屏蔽位，标志位指示第一位是否有效，通过根据第二位的奇偶性屏蔽第二位而产生第一屏蔽位，通过屏蔽第二位的辅助位而产生第二屏蔽位，第二位是第一位中的有效位；提取单元，其使用标志位来从第一位提取第二位；解屏蔽单元，其在接收到第二位时使用第一屏蔽位来解屏蔽第二位，从而提供第三位；位解码单元，其在接收到第三位时将第三位压缩为第四位；以及，块解码单元，其通过解码第四位和第二屏蔽位而产生安全密钥。
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公开(公告)号：CN108880818A
公开(公告)日：2018-11-23
申请号：CN201810175242.2
申请日：2018-03-02
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H04L9/32
CPC classification number: H04L9/3278 , H03K19/003 , H04L9/0866
Abstract: 本发明提供具有低误比特率的物理不可克隆功能电路、包括所述物理不可克隆功能电路的物理不可克隆功能系统以及具有物理不可克隆功能的集成电路。所述物理不可克隆功能电路包括：多个物理不可克隆功能单元，分别被配置成通过对电源电压进行分压来产生输出电压；参考电压产生器，被配置成通过对所述电源电压进行分压来产生第一参考电压；以及比较单元，被配置成将所述多个物理不可克隆功能单元的所述输出电压与所述第一参考电压依序进行比较，以输出所述多个物理不可克隆功能单元的数据值。
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公开(公告)号：CN108108153A
公开(公告)日：2018-06-01
申请号：CN201711163746.4
申请日：2017-11-21
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G06F7/58
Abstract: 公开了随机数发生器和使用可调整的亚稳定电压生成随机数的方法。随机数发生器可以包括：第一亚稳定逆变器，具有彼此连接的输入端子和输出端子并被配置为生成亚稳定电压；放大器，被配置为放大亚稳定电压；控制电路，被配置为调整亚稳定电压的阈值电压；以及采样器，被配置为基于对亚稳定电压进行采样来生成随机数。随机数发生器可以被配置为根据多种操作模式中的不同操作模式来进行操作。放大器可以是第二亚稳定逆变器，被配置为基于随机数发生器分别根据多种操作模式中的第一操作模式或第二操作模式进行操作来放大亚稳定电压或包括彼此连接的输入端子和输出端子。
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公开(公告)号：CN108089840A
公开(公告)日：2018-05-29
申请号：CN201710055989.X
申请日：2017-01-25
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G06F7/58
Abstract: 本发明提供了一种用于随机数产生器的随机性测试设备及方法。一种用于测试随机数产生器的设备包括相关性测试电路和随机性确定电路。相关性测试电路提取由随机数产生器产生的比特流中的均包括彼此隔开第一距离的两个比特的第一多个比特对，获得所述第一多个比特对的各自两个比特之间的差的第一总和，并获得第二多个比特对的各自两个比特之间的差的第二总和，所述第二多个比特对的每个比特对包括彼此隔开与第一距离不同的第二距离的两个比特。随机性确定电路基于第一总和和第二总和来确定比特流的随机性。
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公开(公告)号：CN108089840B
公开(公告)日：2022-03-08
申请号：CN201710055989.X
申请日：2017-01-25
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G06F7/58
Abstract: 本发明提供了一种用于随机数产生器的随机性测试设备及方法。一种用于测试随机数产生器的设备包括相关性测试电路和随机性确定电路。相关性测试电路提取由随机数产生器产生的比特流中的均包括彼此隔开第一距离的两个比特的第一多个比特对，获得所述第一多个比特对的各自两个比特之间的差的第一总和，并获得第二多个比特对的各自两个比特之间的差的第二总和，所述第二多个比特对的每个比特对包括彼此隔开与第一距离不同的第二距离的两个比特。随机性确定电路基于第一总和和第二总和来确定比特流的随机性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108880818B
公开(公告)日：2021-08-24
申请号：CN201810175242.2
申请日：2018-03-02
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H04L9/32
Abstract: 本发明提供具有低误比特率的物理不可克隆功能电路、包括所述物理不可克隆功能电路的物理不可克隆功能系统以及具有物理不可克隆功能的集成电路。所述物理不可克隆功能电路包括：多个物理不可克隆功能单元，分别被配置成通过对电源电压进行分压来产生输出电压；参考电压产生器，被配置成通过对所述电源电压进行分压来产生第一参考电压；以及比较单元，被配置成将所述多个物理不可克隆功能单元的所述输出电压与所述第一参考电压依序进行比较，以输出所述多个物理不可克隆功能单元的数据值。
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公开(公告)号：CN113158200A
公开(公告)日：2021-07-23
申请号：CN202110034190.9
申请日：2021-01-12
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 本公开涉及使用挑战‑响应协议执行认证的集成电路和使用其的方法。所述集成电路包括内部挑战生成器、物理不可克隆功能(PUF)块和响应生成器。内部挑战生成器被配置为接收挑战，生成与挑战对应的多个内部挑战，并且使用筛选信息生成所述多个内部挑战之中的至少一个有效内部挑战。物理不可克隆功能(PUF)块被配置为生成分别根据所述多个有效内部挑战而改变的多个有效内部响应。响应生成器被配置为输出使用所述多个有效内部响应生成的响应。
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公开(公告)号：CN109428724A
公开(公告)日：2019-03-05
申请号：CN201810826612.4
申请日：2018-07-25
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: H03K19/003 , G06F7/588 , H01L23/576 , H04L9/0866 , H04L9/0869 , H04L9/3278 , H04L9/0816
Abstract: 一种用于物理不可克隆功能的集成电路及具有物理不可克隆功能的集成电路，包括第一物理不可克隆功能单元、第二物理不可克隆功能单元及组合电路。第一物理不可克隆功能单元及第二物理不可克隆功能单元基于逻辑门的阈值电平来分别输出具有唯一电平的第一单元信号及第二单元信号。组合电路包括基于第一单元信号及第二单元信号来产生第一组合信号的第一级。第一物理不可克隆功能单元及第二物理不可克隆功能单元分别包括第一逻辑门及第二逻辑门，第一逻辑门及第二逻辑门分别输出第一单元信号及第二单元信号。组合电路包括接收第一单元信号及第二单元信号并输出第一组合信号的第三逻辑门。第三逻辑门具有与第一逻辑门及第二逻辑门中的每一者相同的结构。
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公开(公告)号：CN108108153B
公开(公告)日：2023-11-24
申请号：CN201711163746.4
申请日：2017-11-21
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G06F7/58
Abstract: 公开了随机数发生器和使用可调整的亚稳定电压生成随机数的方法。随机数发生器可以包括：第一亚稳定逆变器，具有彼此连接的输入端子和输出端子并被配置为生成亚稳定电压；放大器，被配置为放大亚稳定电压；控制电路，被配置为调整亚稳定电压的阈值电压；以及采样器，被配置为基于对亚稳定电压进行采样来生成随机数。随机数发生器可以被配置为根据多种操作模式中的不同操作模式来进行操作。放大器可以是第二亚稳定逆变器，被配置为基于随机数发生器分别根据多种操作模式中的第一操作模式或第二操作模式进行操作来放大亚稳定电压或包括彼此连接的输入端子和输出端子。
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公开(公告)号：CN109670346B
公开(公告)日：2023-06-16
申请号：CN201811184280.0
申请日：2018-10-11
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G06F21/73
Abstract: 本申请提供了一种半导体装置、半导体装置的安全密钥登记方法、以及一种电子系统。该半导体装置包括：物理防克隆功能单元阵列，其包括输出第一位的物理防克隆功能单元；非易失性存储器，其存储标志位、第一屏蔽位和第二屏蔽位，标志位指示第一位是否有效，通过根据第二位的奇偶性屏蔽第二位而产生第一屏蔽位，通过屏蔽第二位的辅助位而产生第二屏蔽位，第二位是第一位中的有效位；提取单元，其使用标志位来从第一位提取第二位；解屏蔽单元，其在接收到第二位时使用第一屏蔽位来解屏蔽第二位，从而提供第三位；位解码单元，其在接收到第三位时将第三位压缩为第四位；以及，块解码单元，其通过解码第四位和第二屏蔽位而产生安全密钥。
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