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Invention Grant
US09590128B2 Particle detector and method of detecting particles 有权
粒子检测器和粒子检测方法

Particle detector and method of detecting particles
Abstract:
A particle detector having a support member. A front electrode layer is disposed over the support member. A semiconductor junction having at least an n-type layer and at least a p-type layer is disposed over the front electrode layer. A back electrode layer is disposed over the semiconductor junction. The back electrode layer has a thickness which is selected to permit particles having energies in the range from about 0.5 MeV to about 5 MeV to enter the semiconductor junction.
Abstract(Chinese):

一种具有支撑构件的粒子检测器。 前电极层设置在支撑构件上。 具有至少n型层和至少p型层的半导体结被配置在前电极层的上方。 背面电极层设置在半导体结上。 背面电极层的厚度被选择为允许具有在约0.5MeV至约5MeV范围内的能量的颗粒进入半导体结。

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IPC分类:
H 电学
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件（使用半导体器件的测量入G01；一般电阻器入H01C；磁体、电感器、变压器入H01F；一般电容器入H01G；电解型器件入H01G9/00；电池组、蓄电池入H01M；波导管、谐振器或波导型线路入H01P；线路连接器、汇流器入H01R；受激发射器件入H01S；机电谐振器入H03H；扬声器、送话器、留声机拾音器或类似的声机电传感器入H04R；一般电光源入H05B；印刷电路、混合电路、电设备的外壳或结构零部件、电气元件的组件的制造入H05K；在具有特殊应用的电路中使用的半导体器件见应用相关的小类）
H01L31/00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射，或微粒辐射敏感的，并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的，或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件；专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或设备；其零部件（H01L51/42优先；由形成在一共用衬底内或其上的多个固态组件，而不是辐射敏感元件与一个或多个电光源的结合所组成的器件入H01L27/00）
H01L31/08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的，例如光敏电阻器
H01L31/10 ..特点在于至少有一个电位跃变势垒或表面势垒的，例如光敏晶体管
H01L31/115 ...对很短波长，如X射线、γ射线或微粒子辐射敏感的器件
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