Invention Publication
CN1902475A 荧光计 失效 - 权利终止

荧光计
Abstract:
在用于在样品表面处产生和检测荧光的设备中,该设备高于该样品表面的高度减小,并且由于反射损耗和光散射而导致的所发射的荧光的损耗被最小化。该设备包括三维弯曲的光反射表面(40),其横向于来自光源(32)的光的原始路径而引导该光,并且将该光聚焦到该样品表面处或该样品表面下的照明区(30)。该反射表面(40)还横向于所发射的荧光的原始路径并朝向检测器(46)收集、引导并至少部分地准直该荧光。
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