Invention Publication
- Patent Title: 测量样品尺寸的系统和方法
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Application No.: CN202380059371.4Application Date: 2023-07-07
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Publication No.: CN119790278APublication Date: 2025-04-08
- Inventor: 本杰明·霍兰德 , 艾德里安·里迪克 , 克里斯托弗·乔伊斯 , 菲利普·莱维斯克
- Applicant: 伊利诺斯工具制品有限公司
- Applicant Address: 美国伊利诺伊州
- Assignee: 伊利诺斯工具制品有限公司
- Current Assignee: 伊利诺斯工具制品有限公司
- Current Assignee Address: 美国伊利诺伊州
- Agency: 上海脱颖律师事务所
- Agent 秦婷婷
- Priority: 63/359,085 20220707 US 18/348,142 20230706 US
- International Application: PCT/US2023/069779 2023.07.07
- International Announcement: WO2024/011223 EN 2024.01.11
- Date entered country: 2025-02-12
- Main IPC: G01B5/04
- IPC: G01B5/04 ; G01B5/06
Abstract:
样品测量装置包括：夹具；单个致动器，被配置成控制夹具以夹紧力定位样品；测量探头，被配置成以探测力接触夹紧的样品；以及单个位置传感器，被配置成根据对测量探头的位置的检测来测量夹紧的样品的尺寸。
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