Invention Publication
- Patent Title: 计及锁相环和电流内环暂态过程的逆变电源三相短路故障电流解析方法
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Application No.: CN202411743890.5Application Date: 2024-11-30
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Publication No.: CN119575232APublication Date: 2025-03-07
- Inventor: 刘维胜 , 吴水军 , 孙士云 , 陈有为 , 张丕豪 , 徐韬 , 蒋朝顺 , 李博宇 , 林毓杰
- Applicant: 昆明理工大学
- Applicant Address: 云南省昆明市一二一大街文昌路68号
- Assignee: 昆明理工大学
- Current Assignee: 昆明理工大学
- Current Assignee Address: 云南省昆明市一二一大街文昌路68号
- Agency: 昆明鼎极知识产权代理事务所
- Agent 陈波
- Main IPC: G01R31/40
- IPC: G01R31/40 ; G01R31/52 ; G01R19/00

Abstract:
本发明公开了一种计及锁相环和电流内环暂态过程的逆变电源三相短路故障电流解析方法,属于光伏并网系统故障分析技术领域。本发明研究了不同阻尼比下SRF‑PLL的暂态过程,分析SRF‑PLL暂态过程对PCC点电压与电流进行坐标变换时产生的影响,最后考虑SRF‑PLL与电流内环暂态过程对故障电流的影响,引入修正系数,将逆变器端口故障电流的各相电流分量表达式分解为第一影响条件下的逆变器端口电流的各相电流分量、第二影响条件下的逆变器端口电流的各相电流分量,通过本发明可以更精确分析IIDG的暂态特性,完善IIDG的短路特性分析,为IIDG故障特性分析提供了参考依据。
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