Invention Grant
- Patent Title: 测试文件生成方法、算子测试方法、电子设备与存储介质
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Application No.: CN202411223239.5Application Date: 2024-09-03
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Publication No.: CN118760609BPublication Date: 2024-11-26
- Inventor: 请求不公布姓名
- Applicant: 北京壁仞科技开发有限公司 , 上海壁仞科技股份有限公司
- Applicant Address: 北京市海淀区上地信息路26号1层0106-508室;
- Assignee: 北京壁仞科技开发有限公司,上海壁仞科技股份有限公司
- Current Assignee: 北京壁仞科技开发有限公司,上海壁仞科技股份有限公司
- Current Assignee Address: 北京市海淀区上地信息路26号1层0106-508室;
- Agency: 北京市柳沈律师事务所
- Agent 彭久云
- Main IPC: G06F11/36
- IPC: G06F11/36 ; G06N3/08

Abstract:
一种测试文件生成方法、算子测试方法、电子设备与存储介质。该测试文件生成方法包括:为待测试模型设置多个训练步骤,并且指定多个训练步骤中的m个训练步骤为m个待抓取步骤,其中,m为正整数;运行多个训练步骤以训练待测试模型,其中,在多个训练步骤的运行过程中,实时抓取m个待抓取步骤中多个算子中的每个算子的基本信息,并将抓取的每个算子的基本信息实时添加到目标数据文件中;在多个训练步骤运行完毕之后,基于目标数据文件,生成对应于每个算子的测试文件。该测试文件生成方法可以灵活配置待抓取步骤,并且仅对所指定的待抓取步骤中的测试所需的算子的基本信息进行收集,从而减轻了本地存储的压力,节省了存储空间。
Public/Granted literature
- CN118760609A 测试文件生成方法、算子测试方法、电子设备与存储介质 Public/Granted day:2024-10-11
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