Invention Publication
- Patent Title: 基于知识图谱的传感器精度不合格影响参量定位方法
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Application No.: CN202311184505.3Application Date: 2023-09-14
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Publication No.: CN117349443APublication Date: 2024-01-05
- Inventor: 曾苏凡 , 迟鹏飞 , 陈波 , 彭宇 , 莫文静 , 沈龙文 , 王晓 , 尹琦
- Applicant: 成都飞机工业(集团)有限责任公司 , 哈尔滨工业大学
- Applicant Address: 四川省成都市青羊区黄田坝纬一路88号
- Assignee: 成都飞机工业(集团)有限责任公司,哈尔滨工业大学
- Current Assignee: 成都飞机工业(集团)有限责任公司,哈尔滨工业大学
- Current Assignee Address: 四川省成都市青羊区黄田坝纬一路88号
- Agency: 成都天嘉知识产权代理有限公司
- Agent 毛光军
- Main IPC: G06F16/36
- IPC: G06F16/36 ; G06N3/0442 ; G06F18/25 ; G06F18/213

Abstract:
本发明涉及机械检测技术领域,尤其涉及一种基于知识图谱的传感器精度不合格影响参量定位方法,通过引入基于历史告警数据的多过程域特征抽取和基于这些特征建模的知识图谱,实现隐藏因果关系发现和因果关系比重评估,在此基础上,构建告警知识图谱,融合专家经验知识图谱,得到参量定位知识图谱,针对实时告警数据,分析其数据特征并在对应传感器的知识图谱上定位节点,通过告警因果关系,获取根因定位结果以发现影响传感器精度不合格的参量。本技术方案实现了针对实时告警数据的告警根因定位,可依此加强对影响较大过程域的地面测试的把关,对保证试飞成功率具有重要的意义和价值。
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