Invention Publication
- Patent Title: 一种耳机空间音频检验测试设备及方法
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Application No.: CN202311279732.4Application Date: 2023-09-28
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Publication No.: CN117177164APublication Date: 2023-12-05
- Inventor: 肖少球 , 李遵民 , 唐健
- Applicant: 北京爱德发科技有限公司
- Applicant Address: 北京市海淀区北四环西路68号双桥大厦8层815
- Assignee: 北京爱德发科技有限公司
- Current Assignee: 北京爱德发科技有限公司
- Current Assignee Address: 北京市海淀区北四环西路68号双桥大厦8层815
- Agency: 北京集佳知识产权代理有限公司
- Agent 陈建平
- Main IPC: H04R29/00
- IPC: H04R29/00

Abstract:
本申请涉及耳机测试设备技术领域,公开了一种耳机空间音频检验测试设备及方法,包括测试平台,测试平台包括:机架;转动机构,转动机构设置于机架上;固定机构,固定机构设置于转动机构上,转动机构用于旋转固定机构,固定机构用于固定耳机;声音采集机构,声音采集机构设置于固定机构上,声音采集机构用于对耳机声音进行采集;工控主机,工控主机包括:测试平台控制模块;耳机控制模块,耳机控制模块与测试平台控制模块连接;音频检测模块,音频检测模块与耳机控制模块连接;通讯模块,测试平台控制模块和耳机控制模块均与通讯模块连接。该耳机空间音频检验测试设备及方法,解决了现有设备和方法难以对耳机空间音频功能进行测试的问题。
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