本申请涉及一种芯片安全测试电路、方法及设备。该芯片安全测试电路包括：电压毛刺激发模块，用于向芯片测试板电路输出携带电压毛刺的电源电压信号；芯片测试板电路，用于根据所述电源电压信号和接收的测试输入数据，输出测试输出数据；数据采集与处理模块，用于采集所述测试输入数据、所述测试输出数据以及所述电源电压信号，并根据所述测试输入数据、所述测试输出数据以及所述电源电压信号，检测所述芯片测试板电路中芯片的安全性。该芯片安全测试电路可以实现以自动进行硬件注入故障的方式测试芯片的安全性，保证测试环境与真实环境基本一致，因此可以提升芯片安全测试的准确度。