Invention Grant
- Patent Title: 一种国产化主板可靠性测试方法及系统
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Application No.: CN202210268256.5Application Date: 2022-03-18
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Publication No.: CN114578266BPublication Date: 2022-08-16
- Inventor: 成桥生 , 欧文斯 , 李丹 , 贺佩 , 王振兴
- Applicant: 湖南宇诺辰电子科技有限公司
- Applicant Address: 湖南省长沙市岳麓区望城坡街道望新路188号品格家园2栋105室
- Assignee: 湖南宇诺辰电子科技有限公司
- Current Assignee: 湖南宇诺辰电子科技有限公司
- Current Assignee Address: 湖南省长沙市岳麓区望城坡街道望新路188号品格家园2栋105室
- Agency: 长沙智勤知识产权代理事务所
- Agent 彭凤琴
- Main IPC: G01R31/66
- IPC: G01R31/66 ; G01R31/28

Abstract:
本发明公开了一种国产化主板可靠性测试方法及系统,应用于国产化主板可靠性测试系统;所述系统包括接口测试装置;接口测试装置包括处理模块,以及多个与处理模块通信连接的接口检测模块;接口检测模块包括测试芯片、连接器、识别电阻和识别模块,接口检测模块与待测主板的多个设备接口一一对应;本发明提出的国产化主板可靠性测试方法,通过比对识别电阻的电压值,能够快速有效的检测出各接口检测模块与待测主板的各个设备接口是否出现连接错误的情况,进而避免国产化主板可靠性测试因接线错误而导致的测试结果错误,保障国产化主板可靠性测试的结果的准确性。
Public/Granted literature
- CN114578266A 一种国产化主板可靠性测试方法及系统 Public/Granted day:2022-06-03
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