Invention Grant
- Patent Title: 测试装置与用于测试电路板的方法
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Application No.: CN201880015627.0Application Date: 2018-02-09
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Publication No.: CN110383091BPublication Date: 2022-01-04
- Inventor: 克里斯蒂安·温德尔 , 贝恩德-乌利齐·奥特 , 彼得·勃兰特
- Applicant: 艾克斯塞拉公司
- Applicant Address: 美国马萨诸塞州
- Assignee: 艾克斯塞拉公司
- Current Assignee: atg路德迈股份有限公司
- Current Assignee Address: 德国韦尔特海姆
- Agency: 北京品源专利代理有限公司
- Agent 王小衡; 王朝辉
- Priority: 102017102700.9 20170210 DE
- International Application: PCT/EP2018/053236 2018.02.09
- International Announcement: WO2018/146234 DE 2018.08.16
- Date entered country: 2019-09-03
- Main IPC: G01R31/28
- IPC: G01R31/28
Abstract:
本发明涉及一种测试装置以及一种用于测试电路板(特别是未经装配或经部分装配的电路板)的方法。测试装置为具有梭或两个子梭的飞针，梭或两个子梭可以交替方式将待测试的电路板位移至测试区域。另外，子梭可用于共同固持大型电路板。
Public/Granted literature
- CN110383091A 测试装置与用于测试电路板的方法 Public/Granted day:2019-10-25
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