Invention Publication
- Patent Title: 一种高分辨率可见光中波红外双波段光学成像系统
- Patent Title (English): High-resolution visible-light medium-wave infrared dual-waveband optical imaging system
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Application No.: CN201811543793.6Application Date: 2018-12-17
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Publication No.: CN109633879APublication Date: 2019-04-16
- Inventor: 闫佩佩 , 刘朝晖 , 折文集 , 单秋莎 , 刘凯 , 段晶 , 姜凯
- Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
- Applicant Address: 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
- Assignee: 中国科学院西安光学精密机械研究所
- Current Assignee: 中国科学院西安光学精密机械研究所
- Current Assignee Address: 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
- Agency: 西安智邦专利商标代理有限公司
- Agent 董娜
- Main IPC: G02B17/08
- IPC: G02B17/08 ; G02B13/00 ; G02B13/14

Abstract:
本发明属于光电技术领域,具体涉及一种高分辨率可见光中波红外双波段光学成像系统,解决现有的双波段光学系统对目标的识别能力较低、系统的体积较大无法满足在小卫星上搭载使用的问题。该系统包括第一反射镜、第二反射镜、分光元件,第一反射镜中心设置有通孔;还包括可见光透镜组、可见光探测器、中波红外透镜组及中波红外制冷型探测器;来自物方的光束依次由第一反射镜、第二反射镜反射后,经分光元件分成可见光束和中波红外光束,可见光束依次经过可见光透镜组透射后,到达可见光探测器的靶面,中波红外光束依次经过中波红外透镜组后,光束传播方向改变180度,到达中波红外制冷型探测器的靶面。
Public/Granted literature
- CN109633879B 一种高分辨率可见光中波红外双波段光学成像系统 Public/Granted day:2024-04-05
Information query
IPC分类:
G | 物理 |
G02 | 光学 |
G02B | 光学元件、系统或仪器 |
G02B17/00 | 有或无折射元件的具有反射面的系统 |
G02B17/08 | .折反射系统 |