一种SONOS存储结构及其制造方法
Abstract:
本发明提供了一种SONOS存储结构及其制造方法,SONOS存储结构包括衬底和形成在衬底上的选择管栅极和存储管栅极,其中,衬底为复合衬底,包括具有硅基体层、掩埋氧化物层和硅表面层,硅基体层的上部为存储管阱区;选择管栅极和存储管栅极形成在硅表面层上;选择管栅极包括选择管第一栅极和选择管第二栅极,选择管第一栅极和选择管第二栅极分别位于存储管栅极两侧,并与存储管栅极通过存储管栅极两侧的第一侧墙电性隔离;以及选择管第一栅极和选择管第二栅极外侧的硅表面层上表面分别形成有与选择管第一栅极和选择管第二栅极毗邻的硅外延层。本发明提供的制造方法能够兼容现有的FDSOI工艺,能够制造出结构更小,性能更优的上述SONOS存储单元。
Public/Granted literature
IPC分类:
H 电学
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件(使用半导体器件的测量入G01;一般电阻器入H01C;磁体、电感器、变压器入H01F;一般电容器入H01G;电解型器件入H01G9/00;电池组、蓄电池入H01M;波导管、谐振器或波导型线路入H01P;线路连接器、汇流器入H01R;受激发射器件入H01S;机电谐振器入H03H;扬声器、送话器、留声机拾音器或类似的声机电传感器入H04R;一般电光源入H05B;印刷电路、混合电路、电设备的外壳或结构零部件、电气元件的组件的制造入H05K;在具有特殊应用的电路中使用的半导体器件见应用相关的小类)
H01L27/00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件(其零部件入H01L23/00,H01L29/00至H01L51/00;由多个单个固态器件组成的组装件入H01L25/00)
H01L27/02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27/04 ..其衬底为半导体的
H01L27/10 ...在重复结构中包括有多个独立组件的
H01L27/105 ....包含场效应组件的
H01L27/112 .....只读存储器结构的
H01L27/115 ...... · · · · ·电动编程只读存储器;其多步骤制造方法
H01L27/11563 ....... · · · · · ·具有电荷俘获栅极绝缘层的,例如,MNOS,NROM
H01L27/11568 ........ · · · · · · ·以存储器核心区为特征的(三维布置H01L27/11578)
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