Invention Grant
- Patent Title: 系统的测试方法、装置、存储介质及电子装置
-
Application No.: CN201810226571.5Application Date: 2018-03-19
-
Publication No.: CN108647139BPublication Date: 2022-02-15
- Inventor: 罗盼 , 蔡为东 , 王文明 , 陈倩 , 李孟洁
- Applicant: 携程金融科技(上海)有限公司
- Applicant Address: 上海市长宁区金钟路968号16号楼906室(实际楼层8层)
- Assignee: 携程金融科技(上海)有限公司
- Current Assignee: 上海携程数科信息技术有限公司
- Current Assignee Address: 200335 上海市长宁区金钟路968号12号楼805室
- Agency: 北京康信知识产权代理有限责任公司
- Agent 赵囡囡; 董文倩
- Main IPC: G06F11/36
- IPC: G06F11/36

Abstract:
本发明公开了一种系统的测试方法、装置、存储介质及电子装置。其中,该方法包括:接收测试系统发送的测试请求,其中,测试请求用于请求对被测系统中的目标代码进行测试;响应测试请求从被测系统的运行日志中获取目标代码对应的目标运行日志,其中,运行日志为被测系统运行的过程中生成的日志,目标运行日志为被测系统运行目标代码时生成的日志;向测试系统发送目标运行日志,其中,目标运行日志用于测试系统对目标代码进行测试。本发明解决了相关技术中对系统的自动化测试方案测试准确性和测试效率较低的技术问题。
Public/Granted literature
- CN108647139A 系统的测试方法、装置、存储介质及电子装置 Public/Granted day:2018-10-12
Information query