Invention Grant
- Patent Title: 一种连续测量介质表面氡析出率的方法和装置
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Application No.: CN201510071759.3Application Date: 2015-02-11
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Publication No.: CN104614753BPublication Date: 2017-09-26
- Inventor: 李志强 , 肖德涛 , 赵桂芝
- Applicant: 南华大学 , 衡阳师范学院
- Applicant Address: 湖南省衡阳市常胜西路28号;
- Assignee: 南华大学,衡阳师范学院
- Current Assignee: 南华大学,衡阳师范学院
- Current Assignee Address: 湖南省衡阳市常胜西路28号;
- Agency: 北京科亿知识产权代理事务所
- Agent 肖平安
- Main IPC: G01T1/167
- IPC: G01T1/167
Abstract:
本发明公开了一种连续测量介质表面氡析出率的方法和装置，该方法包括以下步骤：步骤1：测量初始氡浓度C0；步骤2：计算介质表面氡析出率；先按以下方法确定A、B以及等效衰变常量λe：第n和n‑1次测量的集氡罩内氡的浓度之间的关系为：Cn＝A+BCn‑1；(b1)在氡累积过程，(b2)在氡动态平衡过程，该连续测量介质表面氡析出率的方法和装置能实现连续测量，测量效率高。
Public/Granted literature
- CN104614753A 一种连续测量介质表面氡析出率的方法和装置 Public/Granted day:2015-05-13
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