Invention Grant
CN102012460B 极端条件下测量材料或电子器件交流阻抗特性的方法及系统
失效 - 权利终止
- Patent Title: 极端条件下测量材料或电子器件交流阻抗特性的方法及系统
- Patent Title (English): Method and system for measuring alternating current impedance characteristic of material or electronic component under extreme condition
-
Application No.: CN201010290764.0Application Date: 2010-09-21
-
Publication No.: CN102012460BPublication Date: 2013-01-09
- Inventor: 陈腊 , 周云 , 康保娟 , 李备战 , 张金仓 , 曹世勋
- Applicant: 上海大学
- Applicant Address: 上海市宝山区上大路99号
- Assignee: 上海大学
- Current Assignee: 上海大学
- Current Assignee Address: 上海市宝山区上大路99号
- Agency: 上海上大专利事务所
- Agent 何文欣
- Main IPC: G01R27/02
- IPC: G01R27/02
Abstract:
本发明涉及一种极端条件下测量材料或电子器件交流阻抗特性的方法及系统。本方法操作步骤为：1.在具有极端条件的综合物性测量系统中安置样品；2.通过循环设置LCR仪表测量参数实现扫描测量功能；3.利用LCR仪表测量样品交流阻抗；4.消除误差。本系统是一个综合物性测量系统和一个LCR仪表通过GPIB接口总线与一个微机终端相连。本发明能够在极低温和强磁场条件下测量样品或器件交流阻抗特性。
Public/Granted literature
- CN102012460A 极端条件下测量材料或电子器件交流阻抗特性的方法及系统 Public/Granted day:2011-04-13
Information query
