Invention Grant
- Patent Title: 伪线电路仿真的测试方法及装置
- Patent Title (English): Test method and device for pseudo wire circuit emulation
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Application No.: CN201010267139.4Application Date: 2010-08-24
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Publication No.: CN101917311BPublication Date: 2014-08-13
- Inventor: 欧阳岚
- Applicant: 中兴通讯股份有限公司
- Applicant Address: 广东省深圳市南山区科技南路55号
- Assignee: 中兴通讯股份有限公司
- Current Assignee: 海宁高新区科创中心有限公司
- Current Assignee Address: 广东省深圳市南山区科技南路55号
- Agency: 北京康信知识产权代理有限责任公司
- Agent 余刚; 吴孟秋
- Main IPC: H04L12/26
- IPC: H04L12/26 ; H04L12/46

Abstract:
本发明公开了一种伪线电路仿真的测试方法及装置,该装置连接至被测试设备DUT的上联口,且包括:配置模块,用于配置伪线电路仿真参数,其中,伪线电路仿真参数包括用于指示DUT的地址标识和测试装置的地址标识;更新模块,用于根据伪线电路仿真参数更新接收到的来自上联口的伪线数据包中相应的配置字段,其中,伪线数据包中携带DUT的地址标识和测试装置的地址标识;以及发送模块,用于将更新后的伪线数据包发送给上联口。本发明增加了资源的利用率和系统的灵活性,提高了用户体验。
Public/Granted literature
- CN101917311A 伪线电路仿真的测试方法及装置 Public/Granted day:2010-12-15
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