• Patent Title: 用于处理和/或分析表示辐射的图像信息的装置和方法
  • Patent Title (English): Device and method for processing and/or analyzing image information representing radiation
  • Application No.: CN200680056501.5
    Application Date: 2006-11-29
  • Publication No.: CN101573597B
    Publication Date: 2012-06-20
  • Inventor: K·Y·哈夫纳
  • Applicant: ABB研究有限公司
  • Applicant Address: 瑞士苏黎世
  • Assignee: ABB研究有限公司
  • Current Assignee: ABB研究有限公司
  • Current Assignee Address: 瑞士苏黎世
  • Agency: 中国专利代理(香港)有限公司
  • Agent 汤春龙; 王丹昕
  • International Application: PCT/CH2006/000670 2006.11.29
  • International Announcement: WO2008/064495 EN 2008.06.05
  • Date entered country: 2009-05-31
  • Main IPC: G01J5/08
  • IPC: G01J5/08 F23N5/08 G01J5/60
用于处理和/或分析表示辐射的图像信息的装置和方法
Abstract:
本文介绍了一种用于使用耦合到至少一个检测器(21-24)的光学系统(1),处理和/或分析以空间分辨方式表示辐射的图像信息的方法。该方法包括通过所述光学系统使用至少一个移动的微机械反射镜(10),以便图像信息被扫描并按顺序耦合到至少一个检测器(21-24)来收集所述图像信息的步骤。
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